该3086型1nm-DMA差分静电迁移分析仪一般和TSI 3082型静电分级器 、 3777型纳米增强仪 以及凝聚粒子计数器 配套使用，且该分析仪工作流程已经被最优化，不但能够将散逸损失降至 最低，而且能够提高1nm到50nm颗粒物的粒径测量的粒径 分辨率。

特点优势

分析从1到50nm粒径的颗粒物

SMPS（扫描电迁移粒径谱仪）的关键组件

应用范围

颗粒物粒径测量